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　　由含鹽微小液滴在大氣中所構(gòu)成的彌撒系統(tǒng)就是含鹽量，其原因主要是由于海洋中的海水劇烈地?cái)_動(dòng)、風(fēng)浪破碎，海浪拍岸而產(chǎn)生大量的泡沫氣泡，氣泡破裂時(shí)會(huì)產(chǎn)生微小的水滴，海水滴中的大部分因重力作用而降落。

 

　　由于部分分布在海面上，在同時(shí)吃飯的擴(kuò)散保持平衡的狀態(tài)而分布于海面上，隨氣流升入空中。經(jīng)裂解、蒸發(fā)、混并等過(guò)程而演變成彌撒系統(tǒng)，形成大氣鹽核。在氣流的作用下，其高度可達(dá)2000多米的高空，范圍可擴(kuò)散到距離海洋許多公里之處，甚至數(shù)百公里。有研究者觀測(cè)計(jì)算法，海洋每年向陸地輸送約272×101噸鹽核量。

 

　　另外在鹽堿地區(qū)形成的鹽塵霧，可以對(duì)設(shè)備產(chǎn)生和鹽霧類似的影響作用，本文將著重討論鹽霧。鹽霧顆粒的直徑一般較小，大多在2μm以下。有90%以上小于5μm質(zhì)量在0.009~0.02mg之間，其組成主要是氯化物、鈉和硫酸鹽離子、各組成比例大約與海水相同，隨顆粒大小的不同而比例有所變化。

 

　　目前鹽霧環(huán)境條件一般采用鹽霧含量和鹽霧沉降率來(lái)表示，鹽霧含量是指單位體積大氣中的含鹽量，用mg/㎡表示。鹽霧沉降率是指大氣鹽霧在規(guī)定面積上單位時(shí)間的自由沉降量，用mg/(80c㎡h)或mg/(㎡d)表示，在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和ISO標(biāo)準(zhǔn)中均有規(guī)定的測(cè)量方法，有研究認(rèn)為6%，鹽霧含量與鹽霧沉降率為正比關(guān)系。

 

　　空氣中鹽霧含量的極大值出現(xiàn)在海洋上空，陸地上空的鹽霧含量受大氣狀況、海水的蒸發(fā)程度、風(fēng)向、風(fēng)速擴(kuò)散因素的影響，以及與降水情況、離海距離、海岸地貌情況有關(guān)。一般來(lái)說(shuō)大氣鹽霧含量隨海岸到內(nèi)陸距離的增加而迅速下降，鹽霧主要沉降于海岸附近的沿海地區(qū)，與臨近海域海水的含鹽量、溫度、氣團(tuán)特性和厚度、風(fēng)向風(fēng)速、降水空氣濕度、沿海地形、森林覆蓋情況等有關(guān)。

 

 

　　據(jù)美國(guó)有關(guān)資料統(tǒng)計(jì)表明，在美國(guó)軍用飛機(jī)的現(xiàn)場(chǎng)故障中，50%左右是環(huán)境造成的。其中溫度占40%、振動(dòng)占27%、濕熱占19%、沙塵占5%、鹽霧占4%，可見(jiàn)鹽霧影響在近20種環(huán)境因素中居第五位，是一個(gè)不可忽視的破壞性因素。

 

　　小編認(rèn)為，鹽霧對(duì)電子產(chǎn)品的破壞效應(yīng)大體分為3類：腐蝕效應(yīng)、電效應(yīng)和物理效應(yīng)。

 

　　近年來(lái)有人對(duì)集成電路、雷達(dá)天線罩等產(chǎn)品受鹽霧的影響進(jìn)行了研究。結(jié)果表明，集成電路由于電化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致腐蝕物的生成，破壞電路的表面和性能。同時(shí)，與材料與密封性有一定的聯(lián)系，封裝氣密性較好時(shí)，塑料封裝和玻璃封裝只有引線受腐蝕的影響，陶瓷封裝受腐蝕的影響較大。

 

　　鹽霧明顯增大天線罩對(duì)雷達(dá)波的反射，形成的閃爍瓣會(huì)引起虛警，降低罩壁透射，形成雷達(dá)盲區(qū)。

 

 

　　電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)自應(yīng)用以來(lái)，對(duì)改善材料與產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕方面起到了很大的作用，但在電子行業(yè)，鹽霧試驗(yàn)應(yīng)用中存在部分誤區(qū)，譬如采用材料代替整機(jī)進(jìn)行考核，認(rèn)為產(chǎn)品通過(guò)鹽霧試驗(yàn)，則不會(huì)出現(xiàn)鹽霧腐蝕問(wèn)題等。

 

　　我們認(rèn)為，對(duì)于電子產(chǎn)品耐鹽霧性能包含兩個(gè)層面的意義：(1)產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境中能夠正常工作和貯存；(2)產(chǎn)品在一定程度上能夠耐受鹽霧長(zhǎng)期腐蝕。目前，電子產(chǎn)品評(píng)價(jià)中常常應(yīng)用電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)中提到的幾種試驗(yàn)方法來(lái)評(píng)價(jià)設(shè)備耐鹽霧性能。

 

　　在這類型的試驗(yàn)中，考核的是電子產(chǎn)品短期在鹽霧環(huán)境中能夠正常工作和貯存的性能，并不表明電子產(chǎn)品在海洋大氣環(huán)境中不會(huì)發(fā)生鹽霧的設(shè)計(jì)缺陷、質(zhì)量控制欠缺等。電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)在研制過(guò)程中，能夠提高電子產(chǎn)品耐鹽霧腐蝕性能。

 

　　例如在有耐鹽霧腐蝕要求的產(chǎn)品研制過(guò)程中，優(yōu)選耐腐蝕性能優(yōu)異的材料與元器件等。產(chǎn)品耐腐蝕性能相應(yīng)地得到提高。通過(guò)材料、元器件、組件及整機(jī)層層把關(guān)，從而提高產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能。電子產(chǎn)品使用方不僅僅關(guān)注設(shè)備短期耐鹽霧性。

 

 

　　有人認(rèn)為簡(jiǎn)單地把譬如GJB150中的電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)時(shí)間延長(zhǎng)就可以了，這種做法在一定程度上可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在長(zhǎng)期耐鹽霧中存在的一些問(wèn)題，但存在一定的局限性，這是因?yàn)槭紫菺JB150中鹽霧試驗(yàn)為恒定電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)。已有研究證明，連續(xù)恒定電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)與實(shí)際使用之間存在差異。

 

　　其次，對(duì)于電子產(chǎn)品而言由于其構(gòu)成材料多種多樣，還存在不可避免的異種金屬接觸，元器件種類繁多，不同材料與元器件在鹽霧環(huán)境下的腐蝕行為可能存在較大的差異。因此評(píng)價(jià)與考核設(shè)備長(zhǎng)期耐鹽霧性能較為復(fù)雜，目前尚未有一種通用的方法。針對(duì)有長(zhǎng)期耐鹽霧腐蝕要求的產(chǎn)品，可通過(guò)自然環(huán)境試驗(yàn)來(lái)考察環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期效應(yīng)。

 

　　同時(shí)，選擇合適的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)。與自然環(huán)境試驗(yàn)對(duì)比，可探索針對(duì)該類產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法，以較快速地評(píng)價(jià)產(chǎn)品長(zhǎng)期耐鹽霧腐蝕性能。

 

 

　　中科檢測(cè)除了可提供電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)的檢測(cè)服務(wù)之外，還有在開(kāi)展可靠性測(cè)試、潔凈度檢測(cè)、毒理檢測(cè)等檢測(cè)服務(wù)，中科檢測(cè)具有各級(jí)政府部門認(rèn)可的科研成果檢測(cè)資格，得到國(guó)家創(chuàng)新基金扶持，并取得了豐碩的科研成績(jī)。