薄膜檢測
薄膜檢測 檢測介紹
薄膜是一種將材料制成一層薄薄的膜狀物質(zhì),它可以是金屬、塑料、陶瓷、玻璃等材料制成的。薄膜的制作方法主要有化學(xué)氣相沉積法、磁控濺射法、電鍍法、溶液法、物理氣相沉積法等。薄膜廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域,如光學(xué)薄膜、電子薄膜、光伏薄膜、包裝薄膜等。
薄膜的種類繁多,根據(jù)材料不同可以分為金屬薄膜、塑料薄膜、陶瓷薄膜、玻璃薄膜等;根據(jù)用途不同可以分為光學(xué)薄膜、電子薄膜、光伏薄膜、包裝薄膜等。中科檢測具備薄膜檢測資質(zhì)能力,可以出具CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證報告。
薄膜檢測 檢測范圍
金屬薄膜、光學(xué)功能薄膜、塑料薄膜、PVDF薄膜、PTFE薄膜、鈣鈦礦薄膜、高分子薄膜、聚酰胺薄膜、可降解薄膜、鎳鐵合金薄膜、包裝薄膜、pvc薄膜、TPU薄膜、ito薄膜、eva薄膜、toc薄膜、聚酯薄膜等。
薄膜檢測 檢測項目
成分檢測、厚度檢測、高頻介電常數(shù)、節(jié)點損耗、折射率、磁導(dǎo)率、拉伸強度、斷裂伸長率、熱膨脹系數(shù)、表面電阻、電氣強度、尺寸穩(wěn)定性、光降解實驗、表面缺陷檢測、性能檢測、拉力檢測、溶劑殘留檢測、保溫檢測等。
薄膜檢測 檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 37193-2018 光學(xué)功能薄膜 聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 萃取率測定方法
GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報告
GB/T 36053-2018 X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度 儀器要求、準(zhǔn)直和定位、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和報告
GB/T 13555-2017 撓性印制電路用聚酰亞胺薄膜覆銅板
GB/T 13556-2017 撓性印制電路用聚酯薄膜覆銅板
GB/T 36289.1-2018 晶體硅太陽電池組件用絕緣薄膜 第1部分:聚酯薄膜
GB/T 36289.2-2018 晶體硅太陽電池組件用絕緣薄膜 第2部分:氟塑料薄膜
GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法
GB/T 19532-2018 包裝材料 氣相防銹塑料薄膜
薄膜檢測 服務(wù)優(yōu)勢
硬件實力強:標(biāo)準(zhǔn)化實驗室、技術(shù)人員經(jīng)驗豐富、儀器設(shè)備完善,強大數(shù)據(jù)庫;
技術(shù)優(yōu)勢:余年領(lǐng)域聚焦、專注檢測測試分析評估、提供完善評估方案;
服務(wù)周到:全程專業(yè)工程師一對一服務(wù)、解決售后問題;
薄膜檢測 檢測流程
1)樣本采集與準(zhǔn)備:對于不同類型的產(chǎn)品,樣本采集的方法和流程也不同。
2)檢測與分析:樣本進(jìn)入實驗室后,將進(jìn)行各項檢測與分析。
3)數(shù)據(jù)分析與評估:在檢測和分析階段結(jié)束之后,需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步的整理、分析和評估。
4)結(jié)果發(fā)布與監(jiān)督:一旦檢測結(jié)果符合要求,檢測中心會向客戶發(fā)布檢測報告,并出具合格證明。